定制雙面探針臺/I-V測試/晶圓和PCB板測試

產品型號：Huace-8D

廠商性質：生產廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-10-10

產品簡介：

定制雙面探針臺/I-V測試/晶圓和PCB板測試，用于需要正面和背面同時扎針，以實現各種光/電性能測試需求的測試設備。

產品特性Product characteristics

品牌	華測

雙面探針臺

雙面點針探針臺可用于晶圓和PCB板測試，用于需要正面和背面同時扎針，以實現各種光/電性能測試需求的測試設備。該定制探針臺具有優良的機械系統，穩定的結構，符合人體工程學，以及多項升級功能。可廣泛應用于集成電路、Wafer ， LED、LCD、太陽能電池等行業的制造和研究領域。

技術參數型號		Huace-8D雙面探針臺
臺體	chuck尺寸	8英寸
	水平旋轉	卡盤可以360度旋轉，細調精度不大于0.1度，帶有鎖定旋鈕
	XY移動行程	*8英寸8英寸**
	XY移動精度	10um/1um可選
	樣品固定	樣品夾定，尺寸可調；真空吸附固定，卡盤多圈吸附環可獨立控制
	雙面點針平臺	氣動升降平臺升起為雙平臺，落下可做單平臺使用
	平臺針座數量	單平臺最多放置8個CB-200針座
	卡盤結構	普通/高溫/帶背電極等結構卡可選擇
溫控系統	溫度范圍	室溫~300℃ (400℃,500℃可選）
	溫控精度	0.1℃
	溫控穩定性	±1℃
	溫控傳感器	100Ω 鉑電阻傳感器
正面光學系統	CCD	200W/500W/1200W像素可選（正反面）
	顯微鏡類型	單筒/體視/金相顯微鏡可選
	放大倍率	16X-100X/20X-2000X
	顯微鏡調節	*水平方向繞立柱旋轉X-Y移動22英寸，Z軸行程50.8mm**
	光源	外置LED環形光源/同軸光源
背面光學系統	顯微鏡類型	L型單筒顯微鏡
	連續變倍比	6.3:1
	放大倍率范圍	0.75–5X
	放大倍率	*315X（計算公式：變焦CCD顯示器）*
	顯微鏡調節	萬向移動
	光源	同軸光源